关于半导体芯片进行高低温测试的一些关键点

采用半导体芯片制成的产品在我们的生活中，随处可见，比如电脑等智能设备。所以对该类产品的性能要求也很高，需要进行各类环境可靠性测试，需要用到勤卓品牌高低温试验箱，本实验设备具有便利的可操作性能和可靠的设备性能，可以测试半导体陶磁及高分子材料在各种环境条件下

所产生的物理性变化。

　　半导体芯片做高低温测试时，操作人员需要特别注意，在实验的过程中，不能轻易打开高低温试验箱的箱门，主要原因如下：

　　半导体芯片进行高低温测试是在模拟自然环境的试验箱，在使用时，试验箱内可能会有各种极端的环境，例如高温高湿、超低温、高温高压等特殊条件。

　　如果勤卓品牌高低温试验箱中正在进行-70℃的低温测试，这个时候打开试验箱门，寒冷的气流会溢出试验箱，如果我们的手指没有做任何防护，触摸到试验箱壁或者是测试的样品上，会瞬间冻伤，冻伤部位的肌肉组织甚至会坏死。另外在较低温的情况下打开试验箱门可能会造成蒸发器结霜，会影响降温速度，甚至有可能会造成压缩机损坏等问题。

　　如果高低温试验箱中正在进行高温150℃的测试时打开试验箱门，高温气体会瞬间冲出试验箱，如果没有做好相关防护，很有可能会烫伤操作员的面部，如果试验箱旁有燃点低的可燃物，甚至可能会引起起火。

　　如果是其他环境试验设备时，比如恒温恒湿试验箱在进行高温高湿试验箱时，试验箱内的压力和蒸汽会非常大，如果在此时打开试验箱门，也会有高温高湿的蒸汽冲出试验箱，也较有可能会对操作人员造成严重的烫伤。

所以，在半导体芯片高低温测试运行中途，若没有非常必要打开试验箱门，请勿打开试验线门，如果须要使用中途打开试验箱门，那么请一定做好相关的防护措施，用正确的方法打开试验箱门。